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PDL/IL多功能测试仪:PDL-201

General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用最大值/最小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准),能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量,测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260~1620nm,在高、低PDL和各种SOP的情况下都能得到精确的测量结果。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口,可以方便地与计算机连接,进行远程控制和数据传输,是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。


主要应用: 

l  偏振相关损耗(PDL)的测量

l  插入损耗(IL)的测量

l  器件特性监测

l  器件质量评估

l  器件生产、研发

性能参数

指标

工作波长范围

1260 to 1620 nm

分辨率

0.01 dB

PDL测量精度

+/- (0.01 + 5% PDL) dB

PDL测量可重复性

+/- (0.005 + 2% PDL) dB

PDL测量范围

0 to 45 dB

IL测量精度

+/- (0.01 + 5% PDL) dB

IL测量可重复性

+/- (0.005 + 2% PDL) dB

IL测量范围

0 to 45 dB

注入功率范围

-40 dBm to +6 dBm


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