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光纤端面检测仪CleaveMeterLDF

CleaveMeterLDF是利用迈克尔逊干涉仪原理设计的,用于观测大直径光纤端面的检测设备。可以用户处理包层尺寸从250到1200um的光纤。检测仪使用USB端口与外部电脑连接进行观测,可以配合藤仓公司大直径光纤熔接机夹具使用。

 

主要特点:

  1. 高精度测试结果
  2. 使用快速、便捷
  3. 可以同时存储图像及数据文件
  4. 与Fujikura熔接机夹具配套使用

性能指标:

光纤包层直径
250-1200um
光纤涂覆层直径
300-1500um
供电方式
USB接口
电脑接口
RS-232
产品尺寸
95W×160D×104H mm
产品重量
1.5kg

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